آنالیز SEM، تست SEM میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscopy) با تولید یک باریکۀ الکترونی و تاباندن آن به سطح نمونه و روبش کردن اشعه‌های بازگشتی میتواند اطلاعات مختلفی از لایه‌های سطحی ماده به دست دهد. این اطلاعات بسته به آشکارسازهای متصل به دستگاه در رده‌های متفاوتی قابل استفاده است. میکروسکوپ موجود در این آزمایشگاه قابلیت تصویرگیری از توپوگرافی و ساختار عنصری سطح و همچنین بررسی کمی ساختار شیمیایی سطحی را دارد.
بزرگنمایی، مقیاس (Scale) و تعداد تصاویر برای هر نمونه باید در فرم درخواست قید شود. همچنین نمونه‌های FESEM باید کاملاً خشک و فاقد هرگونه روغن و آلودگی قابل تبخیر در خلأ باشند. در صورت محلول بودن نمونه‌ها، فقط نمونه‌های حاوی اتانول و متانول و یا استون قابل پذیرش می‌باشند. آماده‌سازی نمونه‌های سطح مقطع (Cross-Section) شامل برش با الماس و یا شکستن آنها در نیتروژن مایع، بر عهده متقاضی می‌باشد.
بزرگنمایی، مقیاس (Scale) و تعداد تصاویر برای هر نمونه باید در فرم درخواست قید شود. همچنین نمونه‌های FESEM باید کاملاً خشک و فاقد هرگونه روغن و آلودگی قابل تبخیر در خلأ باشند. در صورت محلول بودن نمونه‌ها، فقط نمونه‌های حاوی اتانول و متانول و یا استون قابل پذیرش می‌باشند. آماده‌سازی نمونه‌های سطح مقطع (Cross-Section) شامل برش با الماس و یا شکستن آنها در نیتروژن مایع، بر عهده متقاضی می‌باشد.
آنالیز FESEM دانشگاه شریف
آزمون FESEM (آزمون میکروسکوپ الکترونی روبشی)
آزمایشگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی مقیم (FESEM)
وضعیت دستگاه: فعال و آماده خدمت
TESCAN (MIRA 3 LMU)
دارای ISO 17025
شناسایی عناصر با عدد اتمی بزرگتر از 4 در جدول تناوبی و بیش از 0.1 % وزنی
تصویربرداری از توپوگرافی و مورفولوژی سطحی نمونه و شناسایی عناصر آن با استفاده از آشکارساز EDS نصب‌شده بر روی دستگاه
مورفولوژی و توپوگرافی سطح و سطح مقطع (Cross-Section) نمونه تا بزرگنمایی یک میلیون برابر (آشکارساز الکترونی ثانویه SE) - توزیع فازی از منظر عدد اتمی (آشکارساز الکترونی ثانویه پراکنده‌شده BSE) - آنالیز کمی عنصری به‌صورت نقطه‌ای و نقشه دوبعدی با آشکارساز پاشندگی انرژی اشعه ایکس EDS
[ اطلاعات تماس کارشناسان ]