FESEM دانشگاه شریف

آنالیز SEM

آزمون icp

آنالیز FESEM دانشگاه شریف

آزمون FESEM (آزمون میکروسکوپ الکترونی روبشی) 


آزمایشگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی مقیم (FESEM)

وضعیت دستگاه: فعال و آماده خدمت

TESCAN (MIRA 3 LMU)

دارای ISO 17025

شناسایی عناصر با عدد اتمی بزرگتر از 4 در جدول تناوبی و بیش از 0.1 % وزنی
تصویربرداری از توپوگرافی و مورفولوژی سطحی نمونه و شناسایی عناصر آن با استفاده از آشکارساز EDS نصب‌شده بر روی دستگاه
مورفولوژی و توپوگرافی سطح و سطح مقطع (Cross-Section) نمونه تا بزرگنمایی یک میلیون برابر (آشکارساز الکترونی ثانویه SE) - توزیع فازی از منظر عدد اتمی (آشکارساز الکترونی ثانویه پراکنده‌شده BSE) - آنالیز کمی عنصری به‌صورت نقطه‌ای و نقشه دوبعدی با آشکارساز پاشندگی انرژی اشعه ایکس EDS

آنالیز SEM، میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscopy) با تولید یک باریکۀ الکترونی و تاباندن آن به سطح نمونه و روبش کردن اشعه­‌های بازگشتی می­تواند اطلاعات مختلفی از لایه‌­های سطحی ماده به دست دهد. این اطلاعات بسته به آشکارسازهای متصل به دستگاه در رده‌­های متفاوتی قابل استفاده است. میکروسکوپ موجود در این آزمایشگاه قابلیت تصویرگیری از توپوگرافی و ساختار عنصری سطح و همچنین بررسی کمی ساختار شیمیایی سطحی را دارد.
بزرگنمایی، مقیاس (Scale) و تعداد تصاویر برای هر نمونه باید در فرم درخواست قید شود. همچنین نمونه‌های FESEM باید کاملاً خشک و فاقد هرگونه روغن و آلودگی قابل تبخیر در خلأ باشند. در صورت محلول بودن نمونه‌ها، فقط نمونه‌های حاوی اتانول و متانول و یا استون قابل پذیرش می‌باشند. آماده‌سازی نمونه‌های سطح مقطع (Cross-Section) شامل برش با الماس و یا شکستن آنها در نیتروژن مایع، بر عهده متقاضی می‌باشد.


[ اطلاعات تماس کارشناسان ]
مریم گل‌آبادی
maryamgolabady@yahoo.com
(6248 - 6247) 6246 6616 - 021 داخلی 107
وحید شجاعی
shojaeevahid20@gmail.com
(6248 - 6247) 6246 6616 - 021 داخلی 105
ساعات پاسخگویی
12 الی 14 روزهای کاری
fesem.sharif@gmail.com