آنالیز AFM
آنالیز AFM دانشگاه شریف
آزمون AFM (آزمون میکروسکوپ نیروی اتمی)
آزمایشگاه میکروسکوپ نیروی اتمی مقیم (AFM)
وضعیت دستگاه: فعال و آماده خدمت
برند (مدل): آراپژوهش ( Brisk )
دارای ISO 17025
زبری‌سنجی
نمونه‌های محلول و سوسپانسیون
تصویربرداری در دو مد تماسی و غیرتماسی
آنالیز AFM با میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy) توانایی تصویربرداری از پستی و بلندی‌های سطح (توپوگرافی سطحی) نمونه را داراست. یکی از کاربرد‌های دیگر آنالیز AFM، اندازه گیری ضخامت پوشش‌های نانو متری است. این میکروسکوپ توانایی تصویر برداری از کلیه سطوح از جمله سطوح غیر رسانا را نیز دارد و در دو حالت تماسی و غیر تماسی تصویر برداری را انجام می‌دهد. در نتیجه برای درک ساختار سطحی یک نمونه توده‌ای نانوساختار مانند غشاها، لایه‌های نازک، قطعات الکتریکی لیتوگرافی شده، انجام آنالیز AFM بسیار تکنیک مناسبی است. دستگاه AFM مورد استفاده در این مرکز مدل FemtoScan می‌باشد.
[ اطلاعات تماس کارشناسان ]